Žiadne produkty
Autor: | Karel Saksl |
Rok vydania: | 2020 |
Dostupné od: | 07.07.2020 |
Vydanie: | 1. vydanie |
Typ dokumentu: | vysokoškolský učebný text (skriptá) |
Jazyk publikácie: | slovenčina |
Počet strán: | 73 |
Fakulta/pracovisko UPJŠ: | Prírodovedecká fakulta UPJŠ |
Cieľom týchto učebných textov je poskytnúť študentom druhého a tretieho stupňa vysokoškolského štúdia konkrétny návod na spracovanie 2D difrakčných dát, na realizáciu fázovej analýzy z röntgenovo difrakčných dát a pri spresňovaní mikroštruktúrnych parametrov identifikovaných fáz metódou Rietveldovho spresnenia. Tento návod je koncipovaný formou zadania reálnych úloh z praxe materiálového výskumu a vedie čitateľa krok po kroku procesom spracovania, vyhodnotenia, až po interpretáciu nameraných dát. Na tento účel budú použité voľne prístupné programy ako Fit2D, QualX, POV-Ray a GSAS II, ako aj voľne stiahnuteľný komerčný program (Diamond), ktorý umožňuje realizovať úlohu v rámci demonštračného módu. Fázovú analýzu budeme vykonávať výhradne s využitím voľne šíriteľnej kryštalografickej databázy Crystallography Open Database COD.